国内首台!天准科技发布40nm明场纳米图形晶圆缺陷检测设备
来源:证券时报网作者:e公司 臧晓松2024-07-15 19:21

证券时报·e公司记者从天准科技(688003)了解到,由该公司参股的苏州矽行半导体技术有限公司(以下简称“矽行半导体”)宣布,公司面向40nm技术节点的明场纳米图形晶圆缺陷检测设备TB1500已完成厂内验证,标志着国产半导体高端检测设备实现了新的突破。

这是继去年8月,天准科技交付面向12英寸晶圆65nm至90nm技术节点的宽波段明场缺陷检测设备TB1000不到一年后,公司再次取得阶段性新进展。

从整片晶圆到单颗芯片,除了大家所熟知的光刻机外,还有扩散炉、刻蚀机、离子注入机、薄膜沉积设备、化学机械抛光机和清洗机等一系列设备。缺陷检测设备作为保证芯片质量、降低生产成本,推进工艺迭代的重要工具,在芯片生产流程中不可或缺。特别是随着工艺制程不断演进,制造芯片的成本越来越高,检测设备的重要性与日俱增。拥有更高检测精度、更全缺陷类型覆盖率的明场缺陷检测设备备受行业青睐。

成立于2021年11月的矽行半导体,专注于高端晶圆缺陷检测设备及零部件的研发、生产和销售,并逐步打破KLA等外商对缺陷检测市场的垄断,为国内半导体产业的发展注入了新的活力。

据了解,TB1500是矽行半导体最新的研发成果,核心关键部件全部实现自主可控,同时采用了先进的信号处理算法,有效提高信噪比和检测灵敏度。为了满足40nm技术节点的工艺制程需求,TB1500提升了光源亮度和感度,增大了物镜视野和速度,能够捕捉更小缺陷尺寸。

值得关注的是,天准科技在半导体设备领域持续发力。全资子公司MueTec研发的面向12英寸40nm技术节点的DaVinci G5设备,经过大量的晶圆实测数据验证,表现优异。与前两代产品相比,该设备提升了重复性、吞吐量和高深宽比套刻标记识别能力,将在满足大规模生产的需求下,使复杂芯片图案的套刻精度检测成为可能,极大地提高制造效率。

天准科技致力打造卓越视觉装备平台企业,通过自主研发、海外并购德国MueTec和战略投资成立矽行公司等多种途径,强化在半导体检测设备领域的布局。据悉,矽行半导体面向28nm技术节点的TB2000设备当前进展顺利,各核心零部件均已完成开发,计划于2024年年底发布样机。

责任编辑: 张一帆
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